Eng
Rus
ООО «Совтест АТЕ» приглашает Вас принять участие в двухдневной конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники», которая будет проходить 24 - 25 октября 2018 года на заводе предприятия «Совтест АТЕ» (г. Курск, ул. К.Маркса, 135).
Разработка современных тестовых систем для контроля качества изделий электроники и микроэлектроники является одним из приоритетных направлений деятельности ООО «Совтест АТЕ». Накопленные за 27 лет работы компании знания и опыт позволили «Совтест АТЕ» организовать собственное производство с сертифицированной Системой менеджмента качества (ISO 9001:2015).
В ходе конференции наши специалисты не только расскажут, но и покажут, как организована система качества на предприятии, какое для этого используется оборудование и какие применяются стратегии тестирования. При этом у участников будет возможность ознакомиться с новинками тестового оборудования от всемирно известных производителей – Seica (Италия), Goepel (Германия), Microcraft (Япония), а также с собственными разработками предприятия «Совтест АТЕ». Наши специалисты совместно с иностранными коллегами продемонстрируют примеры внедрения в производственный процесс комплексных решений в области тестирования электроники.
Наши эксперты:
⭕ Antonio Grassino – Президент компании Seica (Италия);
⭕ Sergio Vigna – менеджер по международной торговле, Seica (Италия);
⭕ Alessandro Beiletti – специалист по продвижению, Seica (Италия);
⭕ Andrea Romano – технический специалист, Seica (Италия);
⭕ Steffen Kamprad – Goepel (Германия);
⭕ Вадим Кусков – начальник отдела внутрисхемного контроля ООО «Совтест АТЕ» (Россия);
⭕ Шведюк Георгий – руководитель службы технологического оборудования ООО «Совтест АТЕ» (Россия);
⭕ Малышев Роман – главный конструктор ООО «Совтест АТЕ» (Россия).
Место проведения: завод Совтест АТЕ “Датчики и Системы” г. Курск
14.00
Normal
0
false
false
false
false
RU
X-NONE
X-NONE
1. Авиаперелет по маршруту Москва-Курск (ежедневно по будням):
|
Город вылета |
Время вылета |
Город прилета |
Время прилета |
|
Москва (Внуково) |
20:55 |
Курск (Восточный) |
22:05 |
2. Железнодорожным транспортом (наиболее комфортные поезда):
|
Вокзал |
Дата и время отправления |
Номер поезда |
Дата и время прибытия |
|
Курский |
22.10.2018 11:52 |
№ 741А |
22.10.2018 17:19 |
|
Курский |
22.10.2018 15:52 |
№ 743В |
22.10.2018 21:10 |
|
Курский |
22.10.2018 23:00 |
№ 071В «Белогорье» |
23.10.2018 05:29 |
ПРОЖИВАНИЕ
В гостинице «Престиж» по адресу: г. Курск, ул. Ендовищенская, 13 для предприятий-участников конференции предусмотрена скидка 10% на проживание во всех категориях номеров.
Для получения скидки при бронировании просим указывать, что Ваш сотрудник командирован на предприятие «Совтест АТЕ» на конференцию
Программа** конференции
«Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники»
|
Время |
Мин |
Тема доклада |
Спикер |
|
|
|
24 октября 2018 (среда) |
|
|
09.00-09.30 |
30 |
Регистрация участников |
|
|
|
|
Открытие конференции |
|
|
09.30-09.45 |
15 |
Торжественное открытие. Приветственная презентация: о предприятии СОВТЕСТ и о заводе «Датчики и Системы» |
И.В. Марков |
|
|
|
I часть |
|
|
09.45-10.05 |
20 |
История компании Seica, краткий обзор достижений и выпускаемого оборудования. Заказчики с мировым именем. |
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
10.05-10.55 |
50 |
Место автоматизированных тестовых систем в современном производстве электроники. Внутрисхемное тестирование - гарантия работоспособности электронных модулей |
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
10.55-11.10 |
15 |
Кофе-брейк |
|
|
|
|
II часть |
|
|
11.10-11.50 |
40 |
Внутрисхемное тестирование применительно к контрактному производству (FoxConn, Flextronics, Jabil и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»
|
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
11.50-12.30 |
40 |
Внутрисхемное тестирование применительно к контролю изделий спецтехники (Thales, Raytheon, Alcatel и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ» |
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
12.30-13.30 |
60 |
Обед |
|
|
13.30-15.20 |
110 |
Pilot NEXT – специальные возможности для функционального контроля. Демонстрация системы электроконтроля с подвижными пробниками Pilot V8 NEXT Series (Seica, Италия) |
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
15.20-15.30 |
10 |
Кофе-брейк |
|
|
15.30-16.20 |
50 |
JTAG-тестирование как бюджетное решение для тестирования (и не только) электронных модулей. Демонстрация системы JTAG-тестирования SCANFLEX II Cube (Goepel, Германия) |
Steffen Kamprad (Goepel) |
|
16.20-17.00 |
40 |
Лазерная селективная пайка FireFly. Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ» |
Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti |
|
17.00 |
|
Фуршет
|
|
|
|
|
25 октября 2018 (четверг) |
|
|
09.00-10.00 |
60 |
Опыт тестирования ПП/МПП и собранных электронных модулей на заводе Совтест АТЕ «Датчики и Системы» |
Кусков В.С. |
|
10.00-10.45 |
45 |
3D АОИ: сильные и слабые стороны. Стоит ли следовать модным трендам. Применение автоматической оптической системы в условиях многономенклатурного производства |
Ивахин А.В |
|
10.45-11.25 |
40 |
Демонстрация ремонтного места (проекция на ТВ панель всех шагов). Ремонтный участок «Совтест АТЕ» - современная философия поиска неисправностей. |
Кусков В.С./Слепухов Е. |
|
11.25-11.40 |
15 |
Кофе-брейк |
|
|
11.40-12.10 |
30 |
Решения «Совтест АТЕ» в области входного контроля и испытаний ЭКБ. |
Суворов/Малышев |
|
12.10-12.50 |
40 |
Функциональное тестирование – универсальный подход для испытаний широкой номенклатуры изделий электроники. |
Суворов/Малышев. |
|
12.50-13.50 |
60 |
Обед |
Елькова Н.С. |
|
13.50-14.20 |
30 |
Система прослеживаемости АТЛАС |
Абакумов С. |
|
14.20-14.50 |
30 |
Возможности автоматов JUKI для предотвращения дефектов сборки плат |
Шведюк Е. |
|
14.50-15.50 |
60 |
Демонстрация производства Совтест |
Меньшиков С.С./Рыков И.И./ Кусков В.С./Слепухов Е.А. |
|
15.50-16.00 |
10 |
Заключительное слово |
И.В. Марков |
* для первых 100 участников
**организатор сохраняет за собой право внести корректировки в программу конференции не более 20% от общего числа докладов, не нарушая целостности и единства заявленной темы конференции
14.00
Normal
0
false
false
false
RU
X-NONE
X-NONE
14.00
Normal
0
false
false
false
false
RU
X-NONE
X-NONE
