ООО «Совтест АТЕ» приглашает Вас принять участие в двухдневной конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники»

конференция «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники» от компании ООО «Совтест АТЕ»

ООО «Совтест АТЕ» приглашает Вас принять участие в двухдневной конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники», которая будет проходить 24 - 25 октября 2018 года на заводе предприятия «Совтест АТЕ» (г. Курск, ул. К.Маркса, 135).
Разработка современных тестовых систем для контроля качества изделий электроники и микроэлектроники является одним из приоритетных направлений деятельности ООО «Совтест АТЕ». Накопленные за 27 лет работы компании знания и опыт позволили «Совтест АТЕ» организовать собственное производство с сертифицированной Системой менеджмента качества (ISO 9001:2015).
В ходе конференции наши специалисты не только расскажут, но и покажут, как организована система качества на предприятии, какое для этого используется оборудование и какие применяются стратегии тестирования. При этом у участников будет возможность ознакомиться с новинками тестового оборудования от всемирно известных производителей – Seica (Италия), Goepel (Германия), Microcraft (Япония), а также с собственными разработками предприятия «Совтест АТЕ». Наши специалисты совместно с иностранными коллегами продемонстрируют примеры внедрения в производственный процесс комплексных решений в области тестирования электроники.

Наши эксперты:
 

⭕  Antonio Grassino – Президент компании Seica (Италия);
⭕  Sergio Vigna – менеджер по международной торговле, Seica (Италия);
⭕  Alessandro Beiletti – специалист по продвижению, Seica (Италия);
⭕  Andrea Romano – технический специалист,  Seica (Италия);
⭕  Steffen Kamprad – Goepel (Германия);
⭕  Вадим Кусков – начальник отдела внутрисхемного контроля ООО «Совтест АТЕ» (Россия);
⭕  Шведюк Георгий – руководитель службы технологического оборудования ООО «Совтест АТЕ» (Россия);
⭕  Малышев Роман – главный конструктор ООО «Совтест АТЕ» (Россия).

 

Место проведения: завод Совтест АТЕ “Датчики и Системы” г. Курск

14.00

Normal
0
false

false
false
false

RU
X-NONE
X-NONE

1. Авиаперелет по маршруту Москва-Курск (ежедневно по будням):

 

Город вылета

Время вылета

Город прилета

Время прилета

Москва (Внуково)

20:55

Курск (Восточный)

22:05

 

 

2. Железнодорожным транспортом (наиболее комфортные поезда):

 

Вокзал

Дата и время отправления

Номер поезда

Дата и время прибытия

Курский

22.10.2018

11:52

№ 741А

22.10.2018

17:19

Курский

22.10.2018

15:52

№ 743В

22.10.2018

21:10

Курский

22.10.2018

23:00

№ 071В «Белогорье»

23.10.2018

05:29

 

 

 

 

ПРОЖИВАНИЕ

 

 

 В гостинице «Престиж» по адресу: г. Курск, ул. Ендовищенская, 13 для предприятий-участников конференции предусмотрена скидка 10% на проживание во всех категориях номеров.

 

 

 

Для получения скидки при бронировании просим указывать, что Ваш сотрудник командирован на предприятие «Совтест АТЕ» на конференцию

 

Программа** конференции

 

«Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники»

 

Время

Мин

Тема доклада

Спикер

 

 

24 октября 2018 (среда)

09.00-09.30

30

Регистрация участников

 

 

 

Открытие конференции

 

09.30-09.45

15

Торжественное открытие. Приветственная презентация: о предприятии СОВТЕСТ и о заводе «Датчики и Системы»

И.В. Марков

 

 

I часть

 

09.45-10.05

20

История компании Seica, краткий обзор достижений и выпускаемого оборудования. Заказчики с мировым именем.

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

10.05-10.55

50

Место автоматизированных тестовых систем в современном производстве электроники.  Внутрисхемное тестирование - гарантия работоспособности электронных модулей

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

10.55-11.10

15

Кофе-брейк

 

 

 

II часть

 

11.10-11.50

40

Внутрисхемное тестирование применительно к контрактному производству (FoxConn, Flextronics, Jabil и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

 

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

11.50-12.30

40

Внутрисхемное тестирование применительно к контролю изделий спецтехники (Thales, Raytheon, Alcatel и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

12.30-13.30

60

Обед

 

13.30-15.20

110

Pilot NEXT – специальные возможности для функционального контроля. Демонстрация 

системы электроконтроля с подвижными пробниками  Pilot V8 NEXT Series (Seica, Италия)

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

15.20-15.30

10

Кофе-брейк

 

15.30-16.20

50

JTAG-тестирование как бюджетное решение для тестирования (и не только) электронных модулей.

Демонстрация системы JTAG-тестирования SCANFLEX II Cube (Goepel, Германия)

Steffen Kamprad (Goepel)

16.20-17.00

40

Лазерная селективная пайка FireFly. Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»

Antonio Grassino (Seica)/Sergio Vigna/ Alessandro Beiletti

17.00

 

Фуршет

 

 

 

 

25 октября 2018 (четверг)

 

09.00-10.00

60

Опыт тестирования ПП/МПП и собранных электронных модулей на заводе Совтест АТЕ «Датчики и Системы»

Кусков В.С.

10.00-10.45

45

3D АОИ: сильные и слабые стороны. Стоит ли следовать модным трендам.  Применение автоматической оптической системы в условиях многономенклатурного производства

Ивахин А.В

10.45-11.25

40

Демонстрация ремонтного места (проекция на ТВ панель всех шагов). Ремонтный участок «Совтест АТЕ» - современная философия поиска неисправностей.

Кусков В.С./Слепухов Е.

11.25-11.40

15

Кофе-брейк

 

11.40-12.10

30

Решения «Совтест АТЕ» в области входного контроля и испытаний ЭКБ.

Суворов/Малышев

12.10-12.50

40

Функциональное тестирование – универсальный подход для испытаний широкой номенклатуры изделий электроники.

Суворов/Малышев.

12.50-13.50

60

Обед

Елькова Н.С.

13.50-14.20

30

Система прослеживаемости  АТЛАС

Абакумов С.

14.20-14.50

30

Возможности автоматов JUKI для предотвращения дефектов сборки плат

Шведюк Е.

14.50-15.50

60

Демонстрация производства Совтест

Меньшиков С.С./Рыков И.И./ Кусков В.С./Слепухов Е.А.

15.50-16.00

10

Заключительное слово

И.В. Марков

 

* для первых 100 участников

**организатор сохраняет за собой право внести корректировки в программу конференции не более 20% от общего числа докладов, не нарушая целостности и единства заявленной темы конференции

14.00

Normal
0

false
false
false

RU
X-NONE
X-NONE

 

 

14.00

Normal
0
false

false
false
false

RU
X-NONE
X-NONE

 

 

Другие материалы:

 

Внимание!
Принимаем к размещению новости, статьи или пресс-релизы
со ссылками и изображениями. info@additiv-tech.ru

 

rss